统计过程控制(StatisticalProcessControl，简称SPC)技术是利用统计技术把数据转换成信息，并编成文件、采取纠正措施和改进过程效能的技术。实质是运用过程控制图来监测产品在生产过程中的各个阶段(工序)的质量特性，确保生产过程始终处于统计控制状态，从而达到改进与保证质量的目的。

　　随着生产率的提高和计算机技术的应用发展，在高效率、大批量和重复性生产的制造型企业里，SPC系统已更多地采取利用数据采集设备自动进行数据采集，再利用计算机进行统计分析实时传输到质量控制中心进行分析的方式。通过SPC软件的实施，也帮助企业在一定程度上实现品质数据的自动化，数字化，并提高品质管理的水平。

　　宇航提供的SPC解决方案

　　Uinfor SPC系统是宇航软件自主研发的应用统计分析技术对生产过程进行实时监控，科学区分出生产过程中产品质量的随机波动与异常波动，从而对生产过程的异常趋势提出预警，以便生产管理人员及时采取措施，消除异常，恢复过程的稳定，从而达到提高和控制质量的目的一套系统。

　　1.　宇航SPC系统架构

　　2.   宇航SPC功能结构

　　3.   宇航SPC系统特色

• 友好的用户界面

• 灵活简易的参数配置

• 多种预警提醒方式配置

• 便捷的监控界面

• 数据推送失控回溯

　　宇航SPC产品优势

　　1.纯Web平台

　　2.支持多工厂模式

　　3.多种控制图选择

　　Xbar-R均值极差控制图：用于控制对象为长度、重量、强度、纯度、时间、收率和生产量等计量值的场合。

　　Xbar控制图主要用于观察正态分布的均值的变化，R控制图主要用于观察正态分布分散或变异情况的变化，而Xbar-R控制图则将二者联合运用，用于观察正态分布的变化。

　　Xbar-S均值标准差控制图：与Xbar-R图相似，只需用标准差（s）图代替极差（R）图。

　　X-R（中位数图）：多用于对每一个产品都进行检验，并且每一次有多次检验的情况，采用自动化检查和测量的场合。

　　X-MR（单值移动极差控制图）：适用于无法取得子组检测的单值的测量场合。

　　P控制图：用于控制对象为不合格品率等计数质量指标的场合，使用P控制图时应选择重要的检查项目作为判断不合格品的依据；它用于控制不合格品率、交货延迟率、缺勤率、差错率等。

　　NP控制图：用于控制对象为不合格品数的场合。设n为样本，p为不合格品率，则np为不合格品数。

　　C控制图：用于控制一部机器，一个部件，一定长度，一定面积或任何一定的单位中所出现的不合格数目。如焊接不良数/误记数/错误数/疵点/故障次数。

　　U控制图：当上述一定的单位，也即n保持不变时可以应用c控制图，而当n有变化时则应换算为平均每项单位的不合格数后再使用u控制图。

　　4.自定义判异规则

　　5.控制图一键复制

　　6.方便快捷的数据录入

　　提供方便的数据录入方式，如手工录入、Excel导入和数据接口等。用户可以根据自己的喜好选择多样化、简易化的数据录入方式，告别繁杂的数据导入。

• 手工录入

• excel导入

• 数据接口录入

　　7.数据报告一键生成

　8.完善的数据处理流程

　　9.灵活配置监控看板

　　支持数据实时输出、生成趋势图形、触发报警等作为设备参数的基本功能，使设备数据完全由用户掌握。